東莞市浩華儀器設(shè)備有限公司

在儀器儀表自動(dòng)化測(cè)試軟件開發(fā)領(lǐng)域，測(cè)試環(huán)節(jié)的精準(zhǔn)性、兼容性與靈活性直接決定產(chǎn)品迭代效率與市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。傳統(tǒng) ATE系統(tǒng)往往受限于單一產(chǎn)品適配、設(shè)備兼容量少、維護(hù)成本高的痛點(diǎn)，難以滿足多品類、快迭代的測(cè)試需求。而納米軟件開發(fā)的自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái) ATECLOUD，以無(wú)代碼搭建為核心，兼容千款設(shè)備的廣泛適配性，為電源模塊、半導(dǎo)體芯片、射頻器件等多類產(chǎn)品提供全場(chǎng)景自動(dòng)化測(cè)試解決方案，重新定義了測(cè)試平臺(tái)的靈活與高效。

零代碼開發(fā)平臺(tái)

多產(chǎn)品精準(zhǔn)適配，測(cè)試場(chǎng)景全覆蓋

ATECLOUD 平臺(tái)的核心優(yōu)勢(shì)在于其可根據(jù)不同測(cè)試對(duì)象靈活搭建專屬測(cè)試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)從電源模塊到射頻器件的全品類覆蓋。在電源模塊測(cè)試場(chǎng)景中，平臺(tái)通過(guò)無(wú)代碼拖拽配置，即可聯(lián)動(dòng)程控示波器、可編程電源、電子負(fù)載、高精度萬(wàn)用表等設(shè)備，構(gòu)建完整的電性能自動(dòng)化測(cè)試體系，高效完成電壓穩(wěn)定性、負(fù)載調(diào)節(jié)率、紋波噪聲等關(guān)鍵指標(biāo)的檢測(cè)，無(wú)需手動(dòng)編寫復(fù)雜測(cè)試腳本。

針對(duì)半導(dǎo)體芯片測(cè)試的高精準(zhǔn)要求，ATECLOUD 搭建的芯片測(cè)試系統(tǒng)可無(wú)縫控制探針臺(tái)、高精度示波器、功率計(jì)等專業(yè)設(shè)備，覆蓋超過(guò) 58 項(xiàng)核心測(cè)試項(xiàng)目，涵蓋芯片的電氣特性、功耗表現(xiàn)、信號(hào)完整性等關(guān)鍵維度，確保芯片在量產(chǎn)前的性能驗(yàn)證全面且可靠。而在射頻器件測(cè)試中，平臺(tái)通過(guò)整合網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀等專用設(shè)備，聚焦 S 參數(shù)、增益、噪聲系數(shù)等核心指標(biāo)，為濾波器、放大器等各類射頻器件提供標(biāo)準(zhǔn)化、自動(dòng)化的測(cè)試流程，大幅降低人工操作誤差。

電源模塊測(cè)試

千款設(shè)備兼容，打破傳統(tǒng)適配壁壘

不同于傳統(tǒng) ATE 測(cè)試系統(tǒng)僅能適配少量特定設(shè)備、局限于單一產(chǎn)品測(cè)試的弊端，ATECLOUD 平臺(tái)在設(shè)備兼容性上實(shí)現(xiàn)了質(zhì)的突破。目前平臺(tái)已兼容超過(guò) 1000 款主流品牌型號(hào)的測(cè)試設(shè)備，涵蓋示波器、電源、負(fù)載、探針臺(tái)、網(wǎng)絡(luò)分析儀等各類測(cè)試儀器，覆蓋 Keysight、Tektronix、Chroma 等行業(yè)知名品牌，徹底打破了設(shè)備型號(hào)與品牌的適配限制。

這種廣泛的兼容性讓企業(yè)無(wú)需為測(cè)試平臺(tái)更換現(xiàn)有設(shè)備，可直接利用存量?jī)x器搭建測(cè)試系統(tǒng)，大幅降低硬件投入成本；同時(shí)，當(dāng)企業(yè)拓展新測(cè)試項(xiàng)目或引入新型設(shè)備時(shí)，平臺(tái)可快速完成適配集成，無(wú)需重構(gòu)測(cè)試架構(gòu)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試能力的無(wú)縫擴(kuò)展，真正做到 “一套平臺(tái)，全場(chǎng)景適配”。

設(shè)備指令兼容

無(wú)代碼核心特性，降低維護(hù)與拓展門檻

ATECLOUD 平臺(tái)的無(wú)代碼搭建模式，為企業(yè)測(cè)試團(tuán)隊(duì)帶來(lái)了革命性的效率提升。傳統(tǒng) ATE 系統(tǒng)的維護(hù)與拓展往往依賴專業(yè)開發(fā)人員編寫代碼，不僅上手難度高，且后期修改測(cè)試流程、新增測(cè)試項(xiàng)目時(shí)周期長(zhǎng)、成本高。而 ATECLOUD 采用可視化拖拽式操作，測(cè)試流程搭建、設(shè)備參數(shù)配置、測(cè)試報(bào)告生成等全流程無(wú)需專業(yè)開發(fā)知識(shí)，普通測(cè)試人員經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單培訓(xùn)即可獨(dú)立完成。

這一特性讓企業(yè)在后期維護(hù)中擺脫了對(duì)專業(yè)開發(fā)團(tuán)隊(duì)的依賴，當(dāng)測(cè)試需求發(fā)生變化時(shí)，可自行調(diào)整測(cè)試流程、新增測(cè)試項(xiàng)目，維修與拓展效率提升數(shù)倍；同時(shí)，無(wú)代碼模式減少了代碼冗余與調(diào)試成本，測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)定性與可復(fù)用性顯著提高，為企業(yè)長(zhǎng)期節(jié)省人力與時(shí)間成本，助力測(cè)試團(tuán)隊(duì)聚焦核心業(yè)務(wù)創(chuàng)新。

零代碼搭建

ATECLOUD 平臺(tái)以無(wú)代碼搭建為核心抓手，以千款設(shè)備兼容為基礎(chǔ)支撐，以多產(chǎn)品精準(zhǔn)適配為應(yīng)用落地，徹底解決了傳統(tǒng) ATE 測(cè)試系統(tǒng)的靈活性不足、兼容性有限、維護(hù)成本高的行業(yè)痛點(diǎn)。ATECLOUD 不僅為企業(yè)提供了高效、精準(zhǔn)、靈活的自動(dòng)化測(cè)試解決方案，更通過(guò)降低測(cè)試門檻、提升迭代效率，為產(chǎn)業(yè)升級(jí)注入新動(dòng)能。