國家知識產權局信息顯示,蘇州聯(lián)訊儀器股份有限公司申請一項名為“一種芯片測試設備及測試方法”的專利,公開號CN121027144A,申請日期為2025年8月。專利摘要顯示,本發(fā)明提供了一種芯片測試設備及測試方法,涉及芯片測試技術領域。本發(fā)明中第一測試載臺上放置有至少一個被測芯片,第一測試載臺設置成受控地沿芯片測試設備的前后方向移動。第二測試載臺設置在測試機遠離第一測試載臺的一側,且其上放置有至少一個被測芯片,第二測試載臺設置成受控地沿前后方向移動。第一測試載臺和第二測試載臺設置成交替地移動至測試機內,使得測試機交替地對第一測試載臺和第二測試載臺上的被測芯片進行功能性測試。上述技術方案采用第一測試載臺和第二測試載臺交替進入測試機的方式,減少了上料等待時間,測試機交替地對第一測試載臺和第二測試載臺