在儀器儀表自動(dòng)化測(cè)試軟件開(kāi)發(fā)領(lǐng)域,測(cè)試環(huán)節(jié)的精準(zhǔn)性、兼容性與靈活性直接決定產(chǎn)品迭代效率與市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。傳統(tǒng) ATE系統(tǒng)往往受限于單一產(chǎn)品適配、設(shè)備兼容量少、維護(hù)成本高的痛點(diǎn),難以滿足多品類、快迭代的測(cè)試需求。而納米軟件開(kāi)發(fā)的自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái) ATECLOUD,以無(wú)代碼搭建為核心,兼容千款設(shè)備的廣泛適配性,為電源模塊、半導(dǎo)體芯片、射頻器件等多類產(chǎn)品提供全場(chǎng)景自動(dòng)化測(cè)試解決方案,重新定義了測(cè)試平臺(tái)的靈活與高效。零代碼開(kāi)發(fā)平臺(tái)多產(chǎn)品精準(zhǔn)適配,測(cè)試場(chǎng)景全覆蓋ATECLOUD 平臺(tái)的核心優(yōu)勢(shì)在于其可根據(jù)不同測(cè)試對(duì)象靈活搭建專屬測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)從電源模塊到射頻器件的全品類覆蓋。在電源模塊測(cè)試場(chǎng)景中,平臺(tái)通過(guò)無(wú)代碼拖拽配置,即可聯(lián)動(dòng)程控示波器、可編程電源、電子負(fù)載、高精度萬(wàn)用表等設(shè)備,構(gòu)建完整的電性能自動(dòng)化測(cè)試